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BeamAnalyzer
 

l  12 bit A/D

l  同时高分辨率采样所有模式

l  实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合

l  实时显示光束2D/3D图像

l  测量光束的中心、椭圆度和功率

l  Excel数据存储,RS232TCP/IP数据传输

l  可保存快照图像

l  自动验证分析报告

 

  主要参数:

传感器类型

 

Si

UV-Si

IR

IRE

光谱范围

Si

UV-Si

IR

IRE

350-1100nm

190-1100nm

800-1800nm

1200-2700nm

刀片数

 

3BA3头)

7BA7头)

光束尺寸范围

BA3-SiBA3-UV

BA7-SiBA7-UV(椭圆形)

BA7-SiBA7-UV(圆形)

BA3-IR3BA3-IR3-E

BA7-IR3BA7-IR3-E

BA3-IR5

BA7-IR5

3µm-5mm

15µm-10mm

15µm-9mm

3µm-3mm

15µm-3mm

3µm-5mm

15µm-5mm

光束宽度分辨率

>100µm

<100µm

1µm

0.1µm

光束宽度精确度

 

±2%

功率范围

SiUV-Si探头

InGaAs探头

10µW-1W(有衰减片)

10µW-5mW(无衰减片)

功率精确度

SiUV-Si探头

InGaAs探头

±5%

±10%

功率分辨率

 

0.1µW

位置精确度

 

±15µm

位置分辨率

 

1µm

饱和度

SiUV-Si探头

0.1W/cm2(无衰减片)20W/cm2(NG9)

测量速率

 

5Hz

温度

 

0-35

PC接口

 

USB2.0

 

 

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